Karakterisering av faste overflater

Metoder for karakterisering av overflater. Metodene omfatter foton-, elektron- og ioneinduserte spektroskopiske metoder med spesiell vekt på XPS (røntgen-fotoemisjonsspektroskopi), UPS (ultrafiolett fotoemisjonsspektroskopi), AUGER, LEED (lavenergi elektrondiffraksjon), IRAS (infrarød refleksjons-absorpsjonsspektroskopi), RAS (refleksjons-anisotropispektroskopi), annen-harmonisk generering ved overflater (SHG) og SPM (scanning probe mikroskopi). Emnet gir også en kort innføring i metoder for å generere og opprettholde ultrahøyvakuum og RGA (restgass-analyse).Emnet undervises annethvert år, siste gang studieåret 2012/13.

Studentene skal ha inngående kunnskaper om det teoretiske grunnlaget for aktuelle metoder, herunder XPS, UPS, Auger spektroskopi, LEED, IRAS, RAS, annenharmonisk generering ved overflater og SPM teknikker, for karakterisering av faste overflater og hvilke fysiske fenomener som kan studeres med de ulike metodene. De skal også kunne redegjøre for oppbygging og funksjonalitet til state-of-the art instrumentering for disse metodene.

Studentene skal kunne tolke eksperimentelle resultater oppnådd ved bruk av de aktuelle teknikkene og kunne vurdere hvilke av metode som er aktuell for en gitt vitenskapelig problemstilling.

Forelesninger, kollokvier eller ledet selvstudium, avhengig av antall studenter. Laboratoriedemonstrasjoner.